1.仪器简介
仪器配置了用于观察样品内部信息的STEM附件。二次电子观察样品最表面形态，明场（BF）STEM观察晶体Z衬度，暗场（DF）STEM观察Z衬度（原子序数效应）。
（1）厂家型号
①国别厂家：日本日立公司
②型号：SU8010
（2）主要技术特点
①优秀的低加速电压成像能力，1kv分辨率可达1.3nm
②Upper探头可选择接受二次电子像或背散射电子像
③可以根据样品类型和观测要求选择打开或关闭减速功能
④标配有冷指、电子枪内置加热器，物镜光阑具有自清洁功能
⑤仪器的烘烤维护及烘烤后的透镜机械对中均可由用户自行完成
（3）主要技术指标
①低加速电压，高分辨率
②减轻荷电影响的SE/BSE信号可变功能
③SU8000系列的通用控制系统GUI
④配备了STEM功能附件
（4）功能附件
①X-射线能量色散谱仪，简称能谱仪(EDS)，探测元素范围Be4-U92
②扫描透射电子显微镜探头，即STEM，检测样品的透射像
③离子溅射仪，可喷Au、喷Pt，用于样品导电处理
1.送样要求
2.干燥的固体样品
3.样品无磁性、无挥发性、无腐蚀性、放射性等对设备和人员产生损害的样品
4.上述①②两项必须同时具备，方可测试
5.放置地点/联系方式
武汉市鲁磨路388#中国地质大学东区学海楼115实验室
联系人：王老师Tel：181-4066-6868
